冷熱沖擊測(cè)試產(chǎn)品用途：
冷熱試驗(yàn)箱，又稱(chēng)高低溫沖擊試驗(yàn)箱，冷環(huán)試驗(yàn)箱； 用于電子電氣部件，化學(xué)部件，通訊部件，汽車(chē)部件，金屬，塑料等。工業(yè)，國(guó)防工業(yè)，航空航天，軍械工業(yè)，電子芯片IC，半導(dǎo)體陶瓷和高分子材料的物理變化，測(cè)試材料的重復(fù)電阻 到高溫和低溫，以及產(chǎn)品的化學(xué)變化或物理性質(zhì)的熱膨脹和收縮損壞，都可以確認(rèn)產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密IC到重型機(jī)械部件，沒(méi)有理想的測(cè)試工具就不需要它
符合標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試方法
GJB150.5溫度沖擊試驗(yàn)
GJB 360 .7溫度沖擊試驗(yàn)
GB / 2423.22溫度沖擊試驗(yàn)
冷熱沖擊試驗(yàn) 又名溫度沖擊試驗(yàn)或溫度沖擊試驗(yàn)，用于評(píng)估產(chǎn)品的尖銳環(huán)境溫度變化是設(shè)備設(shè)計(jì)和定型鑒定測(cè)試以及常規(guī)測(cè)試中必不可少的測(cè)試在批量生產(chǎn)階段。 在某些情況下，它也可以用于環(huán)境壓力篩選測(cè)試。 可以說(shuō)，在驗(yàn)證和改善設(shè)備的環(huán)境適應(yīng)性方面，艾斯瑞冷熱沖擊試驗(yàn)箱的應(yīng)用頻率僅次于振動(dòng)試驗(yàn)和高低溫試驗(yàn)。
作為一種測(cè)試方法，冷熱沖擊測(cè)試在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)的不同階段應(yīng)用時(shí)具有不同的目的：
1.工程開(kāi)發(fā)階段可用于發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝缺陷；
2.為產(chǎn)品定型或設(shè)計(jì)評(píng)估以及批量生產(chǎn)階段的驗(yàn)收決定提供依據(jù)；
3.當(dāng)用作環(huán)境應(yīng)力篩選應(yīng)用程序時(shí)，其目的是排查早期的產(chǎn)品故障。
通用實(shí)施標(biāo)準(zhǔn)
1，GJB 150“軍事裝備環(huán)境測(cè)試方法”
2，GB 2423“電氣和電子產(chǎn)品基本環(huán)境測(cè)試規(guī)程”
冷熱沖擊測(cè)試是一項(xiàng)環(huán)境人工模擬測(cè)試項(xiàng)目，它模擬暴露于某些典型自然環(huán)境條件下的產(chǎn)品以承受其影響，以便評(píng)估產(chǎn)品在實(shí)際使用，運(yùn)輸和儲(chǔ)存環(huán)境條件下的性能。
如果您需要測(cè)試，可以私下信任我，我們是一家專(zhuān)業(yè)的第三方測(cè)試機(jī)構(gòu)。
