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PCT高壓加速老化試驗箱技術要點
PCT高壓加速老化試驗箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,相關之產(chǎn)品作加速壽命試驗。

技術要點是:
密封作用、安全性能和操作方式。1.密封作用:背壓式PCT高壓老化試驗箱依靠箱內壓力關閉通向內箱的門,達到良好的密封作用。當箱內壓力為0.1MPa時,內箱會以0.1MPa的力關門,剛好達到很好的密封作用,不需要額外的壓力就可以輕松完成;當箱內壓力為0.2MPa時,內箱會以0.2MPa的吸力關門,整個密封過程基本靠設備自身實現(xiàn)。
3.安全性能:在測試過程中,隨著箱內壓力的增加,反壓門扣會自動鎖死,箱門無法打開,可以更有效的防止操作者無意中打開箱門。當箱內壓力排出后,反壓門扣會自動解鎖,真正起到了門禁的作用。
操作方式:平面反壓門設計,用戶關門時只需逆時針旋轉把手180度,其余由設備自動完成。安全、方便、快捷、有效。
瑞PCT測試儀主要用于測試半導體封裝的吸濕容量。當被測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時,水分會沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的故障模式是有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路或污染導致的封裝引腳之間的短路。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材料、釹鐵硼、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能,測試其產(chǎn)品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負載),加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。

PCT高壓加速老化試驗箱技術要點

規(guī)格:
1.內箱尺寸:φ300×D450(mm)
2.外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
3.內箱材料:SUS 304#不銹鋼板。
4.外箱材料:烤漆或不銹鋼。
5.溫度范圍:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
6.濕度范圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
7.壓力范圍:0.2kg/cm2 ~ 2.4kg/cm2控制點壓力。
8.時間范圍:0 ~ 999小時可調。
9.溫度分布:(+/-)2.0℃。
10.加熱時間:RT ~ 132℃約45分鐘(控制點溫度)。
1.加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2,約40分鐘(控制點壓力)。
12.控制對象:微機+P.I.D.+S.S.R自動計算控制飽和蒸汽溫度。
13.控制方式:微電腦PID控制。
14.控制精度:(+/-)0.5℃。15.分析精度:0.1℃。

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