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HAST試驗箱越來越普遍的原因是什么?
近年來,隨著技術(shù)的進(jìn)步,元器件的可靠性越來越高,一些傳統(tǒng)的測試方法已經(jīng)無法適應(yīng)。例如,常用的IC溫度/濕度/偏置電壓(THB)測試(85C/85%RH加偏置電壓)需要數(shù)千小時才能獲得近封裝質(zhì)量水平的有用結(jié)果。此外,隨著越來越多的塑料微電路和COTS產(chǎn)品被應(yīng)用于高可靠的軍事裝備,也需要提高測試和篩選技術(shù)以降風(fēng)險。

美國國防部宣布采用民間標(biāo)準(zhǔn)SSB-1《塑封微電路和半導(dǎo)體在軍事、航空和其他嚴(yán)格控制的應(yīng)用中的使用指南》,規(guī)定了半導(dǎo)體企業(yè)用于識別新的或改進(jìn)產(chǎn)品的常用可靠性試驗,包括表面貼裝器件的預(yù)處理、偏置壽命試驗、溫度循環(huán)、高壓蒸煮、THB和高加速應(yīng)力試驗(HAST)等。

在這些測試中,艾斯瑞儀器的HAST測試箱是專門為塑封固態(tài)器件設(shè)計的,因為已經(jīng)證明高壓蒸煮和THB測試已經(jīng)不能讓一些健壯的塑封微電路失效。在該實驗中,采用高溫(通常為130℃)、高相對濕度(約85%)和高大氣壓力(高達(dá)3 atm)來加速水分穿過芯片引線周圍的外部保護(hù)材料或密封封裝。當(dāng)水分到達(dá)基底表面時,勢能會將裝置變成電解池,從而加速腐蝕失效機(jī)制。該測試中加速的失效機(jī)制包括金屬化腐蝕、材料界面處的分層、引線鍵合失效、絕緣電阻降等。這個和THB差不多,但是HAST加速更快。有些器件廠商通過對比確定某一批次的失效是由相同的失效模式引起的,然后對該批次使用HAST代替THB,再根據(jù)HAST測試結(jié)果用加速因子推導(dǎo)出等效的THB失效結(jié)果。

對于加速試驗,過去主要使用單一應(yīng)力和恒定應(yīng)力剖面。但是,在新的加速試驗中,應(yīng)力剖面不需要恒定,也可以使用應(yīng)力組合。常見的不穩(wěn)定應(yīng)力剖面和組合應(yīng)力剖面包括步進(jìn)應(yīng)力剖面試驗、漸進(jìn)應(yīng)力剖面試驗、高加速壽命試驗(HALT)、高加速應(yīng)力篩選(HASS)和HAST。HALT、HASS和HAST是相對較新的測試方法。HALT是一個開發(fā)測試,也是一個增強(qiáng)的逐步壓力測試。一般用于發(fā)現(xiàn)設(shè)計中的弱點和生產(chǎn)過程中的問題,目的是提高設(shè)計的強(qiáng)度裕度,而不是預(yù)測產(chǎn)品的定量壽命或可靠性。HASS是一種加速環(huán)境壓力篩選方法。它提供了產(chǎn)品遇到的惡劣的環(huán)境,花費的時間有限。HASS的目的是實現(xiàn)“技術(shù)的基本限”,即應(yīng)力的微小增加會大大增加失效的應(yīng)力水平。HALT和HASS的聯(lián)合使用旨在改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計,大限度地減少生產(chǎn)變化和環(huán)境效應(yīng)對性能和可靠性的影響。

HAST
用于評估IC器件、金屬材料等的可靠性。在潮濕環(huán)境中的非密封包裝中。在溫度/濕度/偏壓條件下,可用于加速水分的滲透,通過外部防護(hù)材料(塑料密封材料或密封件)或在外部防護(hù)材料與金屬導(dǎo)電材料的界面處。

hast試驗箱的詳細(xì)規(guī)范:
設(shè)定溫度:+100℃ ~+132℃(飽和蒸汽溫度)
濕度范圍:蒸汽濕度
工作壓力:1.5 kg ~ 3.2 kg/cm2(內(nèi)筒設(shè)計壓力為4 kg/cm2) (Jué du √壓力)
HAST試驗箱越來越普遍的原因是什么?

時間范圍:000小時~ 999小時
加壓時間:0.00 kg ~ 1.04 kg/cm2,約45分鐘
溫度波動均勻性:0.5℃
溫度顯示精度:0.1℃
壓力波動均勻性:0.2Kg

Hast試驗室控制系統(tǒng)
1.飽和蒸汽的溫度由微型計算機(jī)(PT-100鉑溫度傳感器)控制。
2.時間控制器采用LED顯示。
3.用指針顯示壓力表。
4.微電腦P.I.D自動計算和控制飽和蒸汽溫度。
5.手動進(jìn)水閥(自動加水功能,不停機(jī)連續(xù)測試)。

Hast試驗箱材料:
1.試驗箱尺寸:∮ 300mmx500mm,圓形試驗箱。
2.整機(jī)外形尺寸:實用(寬*深*高)立式
3.內(nèi)桶材料:不銹鋼板材(SUS#3163mm)
4.外桶材料:不銹鋼板(SUS#3161mm)
5.保溫材料:巖棉和硬質(zhì)聚氨酯泡沫保溫。
6.蒸汽發(fā)生器室加熱管:管式無縫鋼管電加熱器,翅片散熱(表面鍍鉑防腐蝕)。

Hast試驗箱ān qun保護(hù):
1.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),確保壓力不泄漏。
2.整機(jī)配有過壓保護(hù)、超溫保護(hù)、一鍵泄壓、手動泄壓等多重φNQán保護(hù)裝置,大程度保證用戶使用和φNQán。
3.背壓門鎖裝置,當(dāng)實驗室內(nèi)有壓力時,試驗箱門不能打開。

Hast試驗箱適用于國防、汽車零部件、電子零件、塑料、磁體工業(yè)、制藥工業(yè)等相關(guān)產(chǎn)品的加速壽命試驗。用于產(chǎn)品設(shè)計階段,快速識別產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。艾利測試儀器是專業(yè)模擬測試設(shè)備的明星企業(yè),生產(chǎn)歷史悠久,技術(shù)精良。國內(nèi)很多測試設(shè)備廠都在用,成立30多年了。深受好評,多次被評為“省優(yōu)”產(chǎn)品。

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