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老化試驗箱：PCT和HAST有什么區(qū)別呢？
Pct和Hast主要用于半導體封裝的吸濕能力，當被測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。廣泛用于測試EVA膠水、TPT薄膜、光伏玻璃、PCB、多層電路板、ic半導體、LCD光學器件、電子元器件、塑封器件/材料、磁鐵/磁性材料等的密封性能。測試光伏組件的耐壓、氣密性、失重試驗、飽和穩(wěn)態(tài)濕熱試驗、加速老化篩選試驗、高可靠性和壽命加速試驗。常見的失效模式有有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路，或污染導致的封裝引腳間短路等。加速壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
那么PCT和HAST有什么區(qū)別呢？為方便客戶選擇，艾斯瑞儀器做如下簡單描述，希望對客戶選擇有所幫助:HAST試驗箱的主要作用是:溫度、壓力、濕度可以隨用戶的試驗條件隨意設定，不受飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度的影響，即不飽和控制。也就是說，可以根據(jù)用戶的測試條件任意設置測試溫度、壓力和濕度。這時就會出現(xiàn)一個問題:非飽和狀態(tài)下濕度的準確性。艾斯瑞儀器使用的濕度檢測裝置是通過干濕球對比，根據(jù)試驗箱內(nèi)的真實環(huán)境來顯示和控制的，jue對不是通過換算關系來顯示和控制的，所以其準確性是jue對有保證的。
PCT試驗箱的主要作用是:壓力是溫度對應的飽和壓力顯示，濕度也是溫度對應的飽和蒸汽壓力。也就是說，測試溫度是隨著用戶的測試條件確定的，飽和蒸汽壓力和飽和蒸汽濕度也是確定的。溫度對應的飽和蒸汽壓力有對應關系。
HAST試驗箱規(guī)格要求:
1.內(nèi)膽采用圓弧設計，結合國家安全容器標準，可防止試驗中出現(xiàn)結露滴漏現(xiàn)象，避免產(chǎn)品在試驗過程中受到過熱蒸汽的直接沖擊，影響試驗結果。
2.配備雙層不銹鋼產(chǎn)品架，或可根據(jù)客戶產(chǎn)品規(guī)格免費定制特殊產(chǎn)品架。
3.HAST測試箱標配8個測試樣本信號應用端子，端子數(shù)量也可根據(jù)需要增加。
4.有專門的樣品架，避免復雜的布線操作。
