低氣壓測(cè)試目的
GJB 360B-2009電子和電氣部件的試驗(yàn)方法方法105 低氣壓試驗(yàn)(相當(dāng)于美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-202F)
目的:測(cè)定元件和材料在低氣壓下的耐電擊穿性能；確定密封件承受壓差而不損壞的能力；檢查低氣壓對(duì)部件工作特性的影響以及低氣壓下的其他影響；有時(shí)可以用來(lái)確定機(jī)電元件的耐久性。
該方法是常溫下的a 低氣壓測(cè)試。如果裝置部件的設(shè)備將在低溫低氣壓和高溫低氣壓的組合條件下儲(chǔ)存和使用，并且可以得出高溫、低溫和氣壓的組合作用是導(dǎo)致故障的主要原因，如果常溫低氣壓試驗(yàn)不能使用，則應(yīng)進(jìn)行溫度和氣壓的綜合環(huán)境試驗(yàn)。
GJB 150.2-2009
目的
該測(cè)試的目的是確定設(shè)備是否能夠:
a)公差低氣壓環(huán)境；
b)在低氣壓環(huán)境中正常工作；
c)承受氣壓的快速變化。
低氣壓相關(guān)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
1)GJB 150.2A-2009軍用設(shè)備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第二部分低氣壓(高度)試驗(yàn)
2)GJB 360B-2009電子和電氣元件試驗(yàn)方法105 低氣壓試驗(yàn)(相當(dāng)于美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-202F)
3)GJB 548B-2005微電子器件測(cè)試方法和程序1001 低氣壓(高空作業(yè))(相當(dāng)于美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)MIL-STD-883D)
4)GB/T 2421-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)通則》
5)GB/T 2423.21-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)方法
6)GB/T 2423.25-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Z/AM低溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法
7)GB/T 2423.26-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓綜合試驗(yàn)方法
8)GB/T 2423.27-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Z/AMD:低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗(yàn)
9)GB/T 2424.15-2008《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》
10)MIL-STD-810F“環(huán)境工程考慮和實(shí)驗(yàn)室試驗(yàn)低氣壓(高度)試驗(yàn)”
11) GB/T 1920-1980標(biāo)準(zhǔn)大氣(小于30公里)(2015年10月失效)
12)IEC 60068-2-41(1976年)《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程第二部分試驗(yàn)試驗(yàn)Z/BM高溫/低氣壓試驗(yàn)》
測(cè)試條件:
1.測(cè)試氣壓
GJB 150不適合飛行高度超過(guò)30000米的航天器、飛機(jī)或?qū)椛系脑O(shè)備，而GJB 360在4 572 ~ 200 000米的不同高度給出了相應(yīng)的低氣壓值，GJB 548在4572 ~ 200000米的不同高度也給出了相應(yīng)的低氣壓值，對(duì)比GJB 360和GJB 548的低氣壓-高度計(jì)，GJB 548列出了7種不同高度下的高度氣壓值 e、F、G，給定的試驗(yàn)條件有一定的規(guī)律性，氣壓值隨飛行高度由低到高由大變小。 GJB 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、10種不同狀態(tài)下的高度氣壓值，列出的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件從A到E有一定的規(guī)律性，隨著飛行高度從低到高，氣壓值由大到小變化，但從試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件j沒(méi)有規(guī)律性，與GJB 548列出的試驗(yàn)條件相比， GJB 360的試驗(yàn)條件在試驗(yàn)條件J上增加了條件H，對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件為:H:3000m 70 kPa； I:18000米，7.6千帕；克:25000米，2.5千帕.
GJB 360B-2009表105-1
2.測(cè)試時(shí)間
GJB 360B-2009規(guī)定:
除非另有規(guī)定，測(cè)試樣品在低氣壓條件下的測(cè)試時(shí)間可從以下值中選擇:
5min、30min、1h、2h、4h和16h。
GJB 150.2-2009
測(cè)試時(shí)間
程序1的測(cè)試持續(xù)時(shí)間應(yīng)代表設(shè)備在低氣壓環(huán)境中的預(yù)期使用時(shí)間。如果時(shí)間太長(zhǎng)，可以適當(dāng)縮短。對(duì)于大多數(shù)設(shè)備，測(cè)試時(shí)間至少持續(xù)1小時(shí)。程序二、三和四的測(cè)試時(shí)間持續(xù)到所有要求的性能測(cè)試完成。
3.壓力上升和下降速度
一般不超過(guò)10kPa/min。
GJB150.2A-2009
高度變化率
如果具體高度變化率(爬升/下降率)未知，或者相關(guān)文件中沒(méi)有規(guī)定，可以參考以下指導(dǎo)數(shù)據(jù):軍用運(yùn)輸機(jī)全推力起飛時(shí)的平均高度變化率通常為7.6m/s。除非證明預(yù)期平臺(tái)環(huán)境需要采用其高度變化率或另有規(guī)定，試驗(yàn)應(yīng)采用10m/s的高度變化率。
GJB150。2A-2009 低氣壓四低氣壓測(cè)試程序(高度)測(cè)試:
程序快速減壓(在15秒內(nèi)，試驗(yàn)區(qū)域的壓力從75.2千帕快速減壓至18.8千帕)
程序爆炸減壓(在0.1秒內(nèi)，試驗(yàn)區(qū)域的壓力突然從75.2Kpa下降到18.8Kpa)。
